殘余奧氏體測試樣品的制備

1.用于殘余奧氏體分析儀的樣品必須經(jīng)過切割，將熱效應降至低值，由于大多數(shù)含有殘余奧氏體的鋼鐵比較堅硬，所以需要使用砂輪切割片磨削樣品，如果樣品不進行適當?shù)睦鋮s，砂輪片存在嚴重的熱效應，可能導致樣品本身的殘余奧氏體發(fā)生改變。與采用鋼鋸切割比較，更建議使用砂輪切割。

2.樣品粗模式時需要使用銑床或高壓輥磨機，此種處理方法會改變表面形狀和殘余奧氏體，使得體內(nèi)殘余奧氏體含量高于表面殘余奧氏體含量，在樣品打磨時將樣品切成小塊，可以有效的解決形變和殘余奧氏體變化。

3.殘余奧氏體分析儀需要使用標準金相濕磨和拋光的方法，需要使用粒徑為80#、120#、240#、320#、400#、600#的碳化硅或氧化鋁的細砂紙，其它材質(zhì)或粒徑的砂紙也可能用到，最后使用6μm金剛石或當量粒徑的磨料進行拋光。

4.由于砂紙或過度 拋光引起的表面變形，可以改變樣品內(nèi)的殘余奧氏體，在在初級的樣品拋光時也可以采用電解和化學拋光，用來保證金相級樣品制備。采用標準醋酸鉻溶液進行電解拋光至0.005-in，使用600#的砂紙或特定的化學電解液將鋼鐵拋光至6μm，可以保證金相級樣品制備，熱酸刻蝕拋光不推薦使用，在有選擇的刻蝕某相時，此項變?yōu)閮?yōu)先取向。

5.根據(jù)樣品尺寸選擇合適的樣品臺，保證X射線束能在樣品上進行2theta衍射。

意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過半個多世紀的開發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號滿足多個行業(yè)的分析需求。ARE X 為殘余奧氏體分析儀，無需依靠搭載模塊在常規(guī)XRD上實現(xiàn)殘余奧氏體測試，具有操作簡便、檢測速度快、數(shù)據(jù)準確等特點，對操作人員要求不高，做到輕松上手。