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產(chǎn)品名稱:

多功能X射線衍射儀

產(chǎn)品型號: EXPLORER
更新時間: 2023-05-17
品牌: GNR/津鈉
生產(chǎn)地址:
EXPLORER多功能X射線衍射儀在眾多分析領(lǐng)域都可發(fā)揮優(yōu)良的性能,例如可以測量混合物質(zhì)的相態(tài);檢測微觀的結(jié)構(gòu)性質(zhì),例如薄膜或塊狀樣品中的殘應(yīng)力和晶體取向等。其模塊化設(shè)計(jì),更是為儀器提供了廣闊的升級空間,通過升級儀器可以滿足新的分析需求。
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EXPLORER多功能X射線衍射儀在眾多分析領(lǐng)域都可發(fā)揮優(yōu)良的性能,例如可以測量混合物質(zhì)的相態(tài);檢測微觀的結(jié)構(gòu)性質(zhì),例如薄膜或塊狀樣品中的殘應(yīng)力和晶體取向等。其模塊化設(shè)計(jì),更是為儀器提供了廣闊的升級空間,通過升級儀器可以滿足新的分析需求。


多功能X射線衍射儀主要特點(diǎn)
■ 直接傳動高精度轉(zhuǎn)矩馬達(dá)與優(yōu)良的光學(xué)編碼器相結(jié)合,確保了儀器的傳動速度和精度;
■ 全部組件可以拆分為7個模塊,同時可以在5個獨(dú)立自由度上檢測樣品,適用于粉末、薄膜和塊狀樣品;
■ 可以進(jìn)行常規(guī)的晶相識別和定量,可以分析晶體尺寸、晶格應(yīng)變及結(jié)晶度的計(jì)算;
■ 可以定量分析殘余奧氏體、多晶物篩查、晶體結(jié)構(gòu)分析、殘余應(yīng)力分析、薄膜分析、深度剖析、相變紋理和優(yōu)先取向、納米粒子分析;
■ 光學(xué)系統(tǒng)可以在 Bragg-Brentano 聚焦和 Johansson 或拋面鏡單色器自由切換;
■ 高分辨的反射技術(shù),讓檢測厚度至1-500nm,幾何平行光束采用了小反射角和薄膜附件,從而可以進(jìn)行薄膜或?qū)哟畏治觯?/span>
■ 將拋面鏡單色器與晶體開槽技術(shù)有機(jī)結(jié)合,并安裝在入射光束上,可以獲得高強(qiáng)度、低散射適合高分辨率測量的平行單色光;
■ 強(qiáng)大、簡便的操作軟件使得檢測工作更加簡單,軟件同時具有其他進(jìn)階功能,可以幫助用戶對復(fù)雜的譜圖進(jìn)行分析。


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